泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP

• 更新時間：2024-10-15
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泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

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泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

●2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率

●全量程0.1埃的分辨率

●輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面

●RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%

●多語言版本的64位控制和分析軟件

良好的光學干涉測量技術
• 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
• 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
• 1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
• 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù)

從實質上消除測量的不確定性
• RMS重復性小于0.2埃，臺階高度重復性小于0.1%
• 整個測量量程有著0.1埃分辨率
• FEA優(yōu)化機械設計，具備出色的R&R能力
• 采用ISO標準的校準，確保結果的可信度

追求長期成本效益的堅固耐用設計
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用
• 自動表面檢測可防止撞壞鏡頭
• 內置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡便性可減少使用者出錯可能

64位控制和分析軟件
• 包括中文、日文在內的多語種支持
• 兼容大多數(shù)計算機平臺，有利于開展合作性研究項目
• 提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進行4D分析
• 根據(jù)多批次測量數(shù)據(jù)自動生成報告