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篤摯儀器（上海）有限公司
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x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點(diǎn)的面積，又能大幅加強(qiáng)射線的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析。 -
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MPO膜厚儀*總代理 DUALSCOPE MPO涂層測厚儀為德國菲希爾生產(chǎn)涂層測厚儀，MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能， 德國菲希爾MP0涂層測厚儀是D-MP0D型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品?？捎糜跍y量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如： -
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